RMC荧光定位切片系统
RMC荧光定位切片系统
新的PTFL荧光定位切片系统是由Francis Crick研究所和RMC Boeckler合作开发的，是一种安装在超薄切片机上的显微镜，能够在修整和切片期间成像块中的荧光细胞。使用PTFL，可以快速评估树脂嵌入样品，并确定ROI（感兴趣区域）的目标。
操作员可以在修剪过程中跟踪ROI，直到追踪荧光信号，到达块表面。然后，研究人员可以使用支撑网格收集仅用于透射电子显微镜（TEM）的超薄切片，并使用选择的基板，例如硅。对于串联块面扫描电镜和聚焦离子束扫描电镜，可移除含有ROI的修剪块面，并将其安装到体EM上。
节省时间：荧光ROI的实时定位可以节省很多小时。
节省成本：减少用户时间、显微镜时间和数据存储。
节省存储空间：数据仅从ROI获取，大大节省了数据存储和处理要求。
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